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技術(shù)文章

電鍍層的厚度檢測

點(diǎn)擊次數(shù)：1690 更新時(shí)間：2010-11-22

　　檢測電鍍層厚度的方法有很多。根據(jù)檢測方法的原理可以分為物理法和化學(xué)法兩大類?；瘜W(xué)法有溶解法、計(jì)時(shí)流液法、電量法等；物理法有直接測量法、質(zhì)量法、磁性法、β射線反射法、X射線熒光法、多相顯微鏡法、輪廓儀法等。
　　
　　溶解法是將一定表面積的鍍層用化學(xué)試劑溶解下來，然后將試樣稱重得到溶解下鍍層的質(zhì)量，再根據(jù)鍍層金屬的密度和試樣的面積可以換算得到鍍層的厚度。溶解法不適宜鍍層與基體金屬含有相同金屬成分的鍍層厚度檢測。
　　
　　計(jì)時(shí)流液法讓一定流速的細(xì)流溶液與試樣鍍層作用使試樣鍍層局部液解。根據(jù)溶液顏色的變化，或電勢的變化，或電流的變化來確定鍍層*溶解的終點(diǎn)。鍍層的厚度是根據(jù)溶解所需要的時(shí)間來計(jì)算的。
　　
　　計(jì)時(shí)點(diǎn)滴法是讓小滴試液在鍍層表面局部停留一定時(shí)間后再更換新液滴，直到將鍍層溶解露出基體金屬為止。然后，根據(jù)溶解鍍層所用時(shí)間來計(jì)算鍍層厚度。該方法精度較低，很少使用。目前僅用于厚度小于l．2μm的薄鉻鍍層。
　　
　　電量法是將已知鍍層表面積的試樣用恒定電流密度的電流進(jìn)行陽電解溶解，當(dāng)鍍層金屬溶解完畢時(shí)，試樣的電勢發(fā)生突變。根據(jù)試樣鍍層面積、電解通過的電量、電流效率、鍍層金屬的密度等來確定鍍層的厚度。該方法對多層金屬鍍層可以更換電解液進(jìn)行連續(xù)測定。
　　
　　斷面金相法是將被測試樣制備成斷面試樣，然后在顯微鏡下觀察測量鍍層厚度。該方法測量精度高，重現(xiàn)性好。缺點(diǎn)是要專門制備試樣，操作較麻煩，一般不用作車間生產(chǎn)過程中對鍍層厚度的檢測。
　　
　　磁性法是以探頭測量試樣的磁通量和互感電流。磁性基體表面的非磁性鍍層或其他覆蓋層厚度不同對磁通量和互感電流的影響是呈線性變化的。通過這些物理量的變化值來確定覆蓋層的厚度。該方法測量鍍層厚度時(shí)對試樣無損傷，可用于鐵基體上非磁性覆蓋層的測量，如電鍍層、噴涂層、涂料層、塑料層和陶瓷層等。是電鍍工業(yè)廣泛使用的測厚方法之一。
　　
　　β射線反向散射法是將放射性同位素的β射線射向試樣，然后一些射線被反射至探測器。反射的β射線的強(qiáng)度與鍍層種類和厚度有關(guān)，因此可以測得鍍層的厚度。該方法精度高，適用于大多數(shù)金屬鍍層，若鍍層金屬與基體金屬之間的原子序數(shù)相差較大時(shí)，厚度測量的靈敏度也會提高，故該方法特別適用于測量貴金屬鍍層。
　　
　　X射線熒光法是利用X射線來激發(fā)鍍層和基體金屬的特性X射線，通過測量鍍層衰減后的X射線的強(qiáng)度來確定被測鍍層的厚度。該方法精度高，可以用于大多數(shù)鍍層和金屬基體。但是所測厚度需要用標(biāo)準(zhǔn)樣品校正。
　　
　　輪廓儀法測試鍍層厚度的原理是溶解鍍層（驗(yàn)收試驗(yàn)）或在電鍍前掩蓋一部分基體（生產(chǎn)檢驗(yàn)）以形成一臺階。用輪廓記錄儀測量臺階的高度。該方法的國家標(biāo)準(zhǔn)是《GB／Tll378—2005金屬覆蓋層覆蓋層厚度測量輪廓儀法》。。上一篇開特-橡膠平板硫化機(jī)的特點(diǎn)及參數(shù) 下一篇分享詳解維氏硬度計(jì)的應(yīng)用與試驗(yàn)原理

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